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電界放出形走査電子顕微鏡（SU8000）
- メーカー名
- (株)日立ハイテクノロジーズ
- 型番
- SU8000
- 仕様
- ・冷陰極電界放出形電子銃
・対物レンズ：セミインレンズ型
・加速電圧：0.5～30 kV
・二次電子像分解能：1.0 nm（加速電圧15 kV）、 2.0 nm（加速電圧1 kV）、 リターディングモード：1.4 nm（照射電圧1 kV）
・リターディングモード 照射電圧：100 V～2.0 kV（加速電圧：500 V～3.0 kV）
・倍率：20～2千倍（低倍率モード）、80～80万倍（高倍率モード）
・最大試料サイズ：φ100 mm
・反射電子検出器搭載
・透過電子信号（BF、擬似DF）検出
・EDS付属（Bluker FlatQUAD）
エネルギー分解能：129 eV以下
検出可能元素：B～U
- 機器利用単価
- 大学・公的機関・スタートアップ企業6,600円/時間
- 中小企業11,000円/時間
- 大企業22,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
電界放出形走査電子顕微鏡（S-5500）
- メーカー名
- (株)日立ハイテクノロジーズ
- 型番
- S-5500
- 仕様
- ・冷陰極電界放出形電子銃
・インレンズ型対物レンズを搭載し、超高分解能観察が可能
・加速電圧：0.5～30 kV
・二次電子像分解能：0.4 nm（加速電圧30 kV)、 1.6 nm（加速電圧1 kV）
・倍率：60～1万倍（低倍率モード）、800～2百万倍（高倍率モード）
・最大試料サイズ
平面：5.0 mm x 9.5 mm x 3.5 mm
断面：2.0 mm x 6.5 mm x 5.0 mm
・透過電子検出器（BF、DF）搭載
- 機器利用単価
- 大学・公的機関・スタートアップ企業3,300円/時間
- 中小企業5,500円/時間
- 大企業11,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
電界放出形走査電子顕微鏡（JSM-6500F）
- メーカー名
- 日本電子(株)
- 型番
- JSM-6500F
- 仕様
- ・電界放出形電子銃
・加速電圧：0.5～30 kV
・二次電子像分解能：1.5 nm（加速電圧15 kV）、 5.0 nm（加速電圧1 kV）
・倍率：10～50万倍
・最大試料サイズ：φ100 mm
・反射電子検出器搭載
・EDS付属（JED-2300）
エネルギー分解能：133 eV以下
検出可能元素：B～U
- 機器利用単価
- 大学・公的機関・スタートアップ企業3,300円/時間
- 中小企業5,500円/時間
- 大企業11,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
走査電子顕微鏡（JSM-6510）
- メーカー名
- 日本電子(株)
- 型番
- JSM-6510
- 仕様
- ・Wフィラメント電子銃
・加速電圧：0.5～30 kV
・二次電子分解能：3.0 nm（加速電圧30 kV）、 8.0 nm (加速電圧3 kV）、 15.0 nm（加速電圧1 kV）
・倍率：5～30万倍
・最大試料サイズ：φ150 mm
・操作ナビ画面にナビゲーション表示
・試料交換手順はフロー式で初心者でも簡単に試料交換可能
- 機器利用単価
- 大学・公的機関・スタートアップ企業3,300円/時間
- 中小企業5,500円/時間
- 大企業11,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
ショットキー電界放出型走査電子顕微鏡（JSM-7001F）
- メーカー名
- 日本電子株式会社
- 型番
- JSM7001F
- 仕様
- ・電界放出形電子銃
・加速電圧：0.5～30 kV
・二次電子像分解能：1.2 nm （加速電圧30 kV）、3.0 nm （加速電圧1 kV）
・倍率：10～1百万倍
・最大試料サイズ：φ100 mm
・反射電子検出器搭載
・EDS付属（JED-2300）
エネルギー分解能：133 eV以下
検出可能元素：B～U
・EBSD：TSL OIM
DigiView 4.0、 Analysis 8.3
・格子歪み測定プログラムCrossCourt Ver.3、Ver.4+
- 機器利用単価
- 大学・公的機関・スタートアップ企業6,600円/時間
- 中小企業11,000円/時間
- 大企業22,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
断面試料作製装置（SM-09020CP）
- メーカー名
- 日本電子(株)
- 型番
- SM-09020CP
- 仕様
- ・イオン加速電圧：2〜6 kV
・イオンビーム径：500μm
・最大搭載試料サイズ：11 x 10 x 2 mm
・試料角度調整範囲：±5°
・ミリングスピード：100μm/hr
・使用ガス：アルゴン(6N)
- 機器利用単価
- 大学・公的機関・スタートアップ企業3,300円/時間
- 中小企業5,500円/時間
- 大企業11,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
ハイブリッドコーター（Q150R ES）
- メーカー名
- クォーラムテクノロジーズ
- 型番
- Q150RES
- 仕様
- ・炭素成膜：通電加熱方式（4N-CNTワイヤーから）
・Au成膜：マグネトロンスパッタリング方式
・到達圧力：2 Pa以下
- 機器利用単価
- 大学・公的機関・スタートアップ企業3,300円/時間
- 中小企業5,500円/時間
- 大企業11,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
フーリエ変換赤外分光光度計（IRAffinity-1S）
- メーカー名
- 島津製作所
- 型番
- IRAffinity-1S/AIM-9000
- 仕様
- ・波数範囲：350～7800 cm-1
・最小分解能：0.5cm-1
・DLATGS検出器
・赤外顕微鏡
- 機器利用単価
- 大学・公的機関・スタートアップ企業3,300円/時間
- 中小企業5,500円/時間
- 大企業11,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
デジタル顕微鏡（RH-8800）
- メーカー名
- ハイロックス
- 型番
- RH-8800
- 仕様
- 3次元の光学測定が可能。最大倍率7000倍。
- 機器利用単価
- 大学・公的機関・スタートアップ企業3,300円/時間
- 中小企業5,500円/時間
- 大企業11,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
2波長Pilatus低温単結晶X線回折装置_NSC
- メーカー名
- (株)リガク
- 型番
- VariMax DW with Saturn
- 仕様
- ・X線波長：MoもしくはCu（自動切り替え）
・高輝度X線源：試料部輝度 31 kW/mm2
・X線検出器：高感度・低ノイズ型半導体検出器PILATUS200K
・角度分解能可変：カメラ長 40～115 mm
- 機器利用単価
- 大学・公的機関・スタートアップ企業6,600円/時間
- 中小企業11,000円/時間
- 大企業22,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
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