セミナーのご案内「EPMA(JEOL iHP200F)の紹介」

NIMS表面・バルク分析ユニットでは、NIMS共用装置の「EPMA (Electron Probe Micro Analyzer：電子プローブマイクロアナライザー) 」の概要とその応用例をご紹介します。

本説明会では、装置担当者による利用方法の解説と、実際にEPMAを利用しているNIMS研究者から具体的な研究事例や成果についてもお話しします。

さらに、セミナー終了後には人数限定でEPMAの見学会を実施します。実際の装置を間近でご覧いただき、専門家へ直接質問できる貴重な機会です。

※ 見学会は定員に限りがありますので、お早めにお申し込みください。

【日時】2025年12月5日(金)13:30-16:00
【場所】物質・材料研究機構　千現地区本館8階中セミナー室（オンライン併用）
【参加費】無料
【参加者】どなたでも参加可能
【お申込み】こちらから事前参加登録をお願いいたします

【プログラム】

あいさつ　NIMS　松下能孝

EPMAおよびJEOL iHP200Fの紹介　JEOL　脇本理恵氏

事例紹介　NIMS　今井基晴

EPMA利用の流れ　NIMS　宮内直弥

総合討論＆利用相談会　※先着20名様に、セミナー終了後装置見学会を行います。

【お問い合わせ】国立研究開発法人物質・材料研究機構（NIMS）
　　　　マテリアル先端リサーチインフラセンターハブ　担当領域推進室　arim-gyomu[at]nims.go.jp

・フライヤー [PDF形式／580.33KB]

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