NIMS Open Facilityの設備について新規登録、登録削除がありましたので、以下のとおりお知らせいたします。

新規登録

以下の設備が、NIMS Open Facilityとして新しく登録されました。ぜひご利用ください。

• 液中原子間力顕微鏡 (3/1付)
• 2軸傾斜バイアス印加・加熱TEM試料ホルダー (4/1付)
• 2軸傾斜液体窒素冷却TEM試料ホルダー (4/1付)
• 高速高精細電子ビーム描画装置 (5/9付)
• 四重極型ICP質量分析装置 (6/1付)

登録削除

以下の設備は、NIMS Open Facilityの共用設備から削除されました。これまでご利用いただきありがとうございました。

• ナノサーチ顕微鏡（3/1付）
• 走査型ヘリウムイオン顕微鏡（4/1付）
• スピン偏極低エネルギー電子顕微鏡（4/1付）
• マイクロフォーカスX線CT装置（4/1付）
• 原子識別電子顕微鏡（4/1付）
• 極低温・高磁場走査型トンネル顕微鏡（4/1付）
• 低温走査型トンネル顕微鏡（4/1付）
• 環境制御型周波数変調方式走査型プローブ顕微鏡（4/1付）
• ガス吸着型比表面積・ナノ細孔径評価装置（4/1付）
• 300kV電界放出形透過電子顕微鏡(Tecnai G2 F30) (4/1付）
• 誘導結合プラズマ発光分析装置（マルチ型) (5/9付)

以上