スクール・イベント
No.3 TOF-SIMS/XPS
プログラム概要
(TOF-SIMS)アルバック・ファイ TRIFT V nanoTOF
(XPS)アルバック・ファイ Quantera SXM
対象
初級者
講習形式
座学と見学
開催日
2017年11月8日(水)
時間
13:00～16:00
定員
10名
開催場所
千現地区
内容
TOS-SIMS及びXPSの分析法の原理や装置概要、測定上の注意点の説明、分析事例説明、装置見学。
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