スクール・イベント

No.5 透過型電子顕微鏡法

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JEOL JEM-2100F

初級者

座学と実習

(上期)2019年7月29日(月)
(下期)2019年10月4日(金)

9:30～16:30

2名

千現地区

透過型電子顕微鏡法の基礎と材料解析への応用についての座学および実習。
実習：HRTEM像取得のための基本的なアライメント、電子回折図形の取得、STEM-EDSによる組成分析

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