No.3 TOF-SIMS/XPS
プログラム概要
(TOF-SIMS)アルバック・ファイ TRIFT V nanoTOF
(XPS)アルバック・ファイ Quantera SXM
対象
初級者
講習形式
座学と見学
開催日
2017年11月8日(水)
時間
13:00～16:00
定員
10名
開催場所
千現地区
内容
TOS-SIMS及びXPSの分析法の原理や装置概要、測定上の注意点の説明、分析事例説明、装置見学。
問い合わせ先
このページに関するお問い合わせは技術開発・共用部門です。
メールでのお問い合わせはこちらアンケート
NIMS Open Facilityホームページをより良いサイトにするために、皆さまのご意見・ご感想をお聞かせください。
なお、この欄からのご意見・ご感想には返信できませんのでご了承ください。
- 2020年1月20日
- 印刷する