無損傷電子顕微鏡試料薄片化装置(Model 1040 Nanomill)
装置名称 | 無損傷電子顕微鏡試料薄片化装置(Model 1040 Nanomill) |
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メーカー名 | フィッシオーネ |
型番 | Model 1040 Nanomill |
用途 | ・透過電子顕微鏡観察用薄膜試料の作製 |
仕様 | ・イオン:アルゴン ・イオンエネルギー:50~2000eV 可変 ・イオン電流:1mA/cm2 ・イオンビームサイズ:2μm |
利用時間単位 | 時間(1h) |
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機器利用料金(税抜金額) |
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利用可能形態 |
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マテリアル先端リサーチインフラの利用 | ○ |
問い合わせ先部署 | 電子顕微鏡ユニット |
設置場所 | 並木地区 超高圧電子顕微鏡特殊実験棟102号室 |
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