実動環境対応物理分析電子顕微鏡（JEM-ARM200F-G）
| 装置名称 | 実動環境対応物理分析電子顕微鏡（JEM-ARM200F-G） |
|---|---|
| メーカー名 | 日本電子(株) |
| 型番 | JEM-ARM200F-G |
| 用途 | ・TEM解析 |
| 仕様 | 【遠隔利用可】 ・加速電圧：200kV ・点分解能：0.11nm ・格子分解能：0.07nm |
| 利用時間単位 | セッション（3.5h） |
|---|---|
| 機器利用料金（税抜金額） |
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| 利用可能形態 |
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| マテリアル先端リサーチインフラの利用 | ○ |
| 問い合わせ先部署 | 電子顕微鏡ユニット |
| 設置場所 | 千現地区 材料信頼性実験棟 118号室 |
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