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800MHzワイドボア固体高分解能NMRシステム
- メーカー名
- (株)JEOL RESONANCE
- 型番
- ECZ800
- 仕様
- ・磁場：18.79 T (固定) (1H: 800 MHz相当)
・ボア径：89 mm (室温)
・永久電流モードで常時運転
・磁場均一度：2.6×10⁻⁶/20 mm DSV
・プローブ：HX (1 mmφ/70 kHz, 2 mmφ/40 kHz, 3.2 mmφ/22 kHz)
クライオコイル (Optional)
・CP/MAS, MQMASなど
- 機器利用単価
- 大学・公的機関・スタートアップ企業3,300円/時間
- 中小企業5,500円/時間
- 大企業11,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 強磁場計測ユニット
大口径超伝導マグネット
- メーカー名
- （株）東芝、NIMS
- 型番
- －
- 仕様
- 超伝導マグネット
・磁場：14 T
・ボア径：340 mm（室温）
- 機器利用単価
- 大学・公的機関・スタートアップ企業3,300円/時間
- 中小企業5,500円/時間
- 大企業11,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 強磁場計測ユニット
18T汎用超伝導マグネット装置
- メーカー名
- ジャパン スーパーコンダクタ テクノロジー(株)
- 型番
- JSD-18T52
- 仕様
- ・中心磁場：18T
・ボア径：52mm
・4.2 K / 温度可変クライオスタット
- 機器利用単価
- 大学・公的機関・スタートアップ企業3,300円/時間
- 中小企業5,500円/時間
- 大企業11,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 強磁場計測ユニット
試料振動型磁化測定装置（VSM）
- メーカー名
- オックスフォード・インストゥルメンツ(株)
- 型番
- Maglab VSM system
- 仕様
- ・中心磁場：12T
・最大磁場 : ±11.5 T
・測定温度 : 4-300 K
・測定可能磁化範囲 : 10-4-10 emu
・試料寸法 : 最大5mm角程度
・磁場掃引速度 : 1.0 T/min
・振動周波数 : 55 Hz
・振動幅 : 1.5-0.1 mm
- 機器利用単価
- 大学・公的機関・スタートアップ企業3,300円/時間
- 中小企業5,500円/時間
- 大企業11,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 強磁場計測ユニット
冷凍機伝導冷却型12T超伝導マグネット装置
- メーカー名
- ジャパン スーパーコンダクタ テクノロジー(株)
- 型番
- JMTD-12T100
- 仕様
- ・提供磁場 : 12 T
・口径 : 100 mm
・回転角：ボア鉛直から水平の90度以上
・4.2Kクライオスタット
・磁場均一度 : 1.5*10-2/40mmDSV
・磁場掃引速度 : 10 T/ 30 min
・4K-GM冷凍機ユニット付属
- 機器利用単価
- 大学・公的機関・スタートアップ企業3,300円/時間
- 中小企業5,500円/時間
- 大企業11,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 強磁場計測ユニット
大口径17Tマグネット
- メーカー名
- ジャパン スーパーコンダクタ テクノロジー(株)
- 型番
- F015
- 仕様
- ・最大磁場：17T
・口径：129mm（コールドボア）
- 機器利用単価
- 大学・公的機関・スタートアップ企業3,300円/時間
- 中小企業5,500円/時間
- 大企業11,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 強磁場計測ユニット
強磁場光学測定システム
- メーカー名
- クライオジェニック
- 型番
- －
- 仕様
- パルス磁場
・中心磁場 : 40 T
・口径：30 mm
・パルス幅1msec
・1分間隔で磁場発生可
定常磁場
・中心磁場 : 15 T
・口径：52 mm
・ヘリウム4温度可変クライオスタット(試料空間42mm)
・磁場均一度：2×10-4/10mmDSV
- 機器利用単価
- 大学・公的機関・スタートアップ企業3,300円/時間
- 中小企業5,500円/時間
- 大企業11,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 強磁場計測ユニット
XRD（粉末）
- メーカー名
- (株)リガク
- 型番
- RINT-Ultima III
- 仕様
- ・粉末測定
・フォーカスビーム、パラレルビーム
・キャピラリーホルダー
・高温チャンバー
- 機器利用単価
- 大学・公的機関・スタートアップ企業3,300円/時間
- 中小企業5,500円/時間
- 大企業11,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
薄膜X線回折装置_Cu
- メーカー名
- (株)リガク
- 型番
- SmartLab
- 仕様
- ・薄膜測定
・小角散乱測定
- 機器利用単価
- 大学・公的機関・スタートアップ企業3,300円/時間
- 中小企業5,500円/時間
- 大企業11,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
誘導結合プラズマ発光分析装置（高分解能型）（SPS3520UV-DD）
- メーカー名
- (株)日立ハイテクサイエンス
- 型番
- SPS3520UV-DD
- 仕様
- ・プラズマ観測方向：ラジアル
・分光器：ツェルニ・ターナ型
・検出器：光電子倍増管型
・測定波長範囲：185～850 nm（L分光器）、130～460 nm（第2分光器）
・プラズマ・イオン種：Ar
・プラズマ周波数：27 MHz
・RF出力：～1.6 kW
- 機器利用単価
- 大学・公的機関・スタートアップ企業3,300円/時間
- 中小企業5,500円/時間
- 大企業11,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
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