スクール・イベント

No.5 TEMによる材料解析

プログラム概要

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JEOL JEM-2100F

対象

初級者

講習形式

座学と実習

開催日

 2017年11月10日(金)

時間

9:30~17:00

定員

2名

開催場所

千現地区

内容

透過電子顕微鏡による材料解析(TEM, STEM, STEM-EDSの基礎)に関する講義および実習を行います。透過型電子顕微鏡の初心者が対象。

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